CIQTEK presenta microscopio de emisión de campo de 200kV denominado TEM-F200
Análisis de defectos en semiconductores y fortalecimiento de la autonomía en equipos críticos
![Fotografía del microscopio electrónico TEM-F200 presentado por CIQTEK [Foto=CIQTEK]](https://image.ajunews.com/content/image/2026/10/22/20261022104355107057.jpg)
La empresa china de instrumentos científicos CIQTEK (國儀量子) presentó el 18 de octubre el microscopio electrónico de emisión de campo de 200kV denominado "TEM-F200" en la Conferencia Académica Nacional de Microscopía Electrónica 2026, celebrada en Nanjing, según reportó la agencia Shanghai Securities el 22 de octubre. El producto ha recibido considerable aprobación en la industria de semiconductores china.
El equipo logra una resolución de información de 0,1 nanómetros (nm) y una resolución puntual de 0,25 nm, habiendo alcanzado la etapa de producción en masa y entrega. CIQTEK es una empresa de investigación y desarrollo de medición cuántica de precisión e instrumentos científicos avanzados con sede en Hefei, provincia de Anhui, China. La compañía ha construido capacidades de investigación, desarrollo, fabricación, venta y servicio de equipos de análisis de precisión, incluyendo microscopios electrónicos. El nuevo producto fue completamente desarrollado internamente, desde módulos críticos hasta software de control y análisis, así como la integración del sistema. Según explicó la empresa, ha resuelto los desafíos técnicos de los equipos de 200kV, que requieren la coordinación estable del cañón de electrones, fuente de alto voltaje, sistema óptico electrónico y detectores.
En la industria de semiconductores, el microscopio electrónico de transmisión es un equipo de análisis crítico para observar las microestructuras dentro de los chips. Permite examinar secciones transversales de semiconductores con alta resolución para analizar estructuras de transistores, espesores de capas delgadas, interfaces entre materiales y alineaciones cristalinas. También se utiliza para identificar las causas de pequeños espacios vacíos, defectos e impurezas que surgen durante los procesos de fabricación, así como para verificar el desempeño y confiabilidad de los dispositivos. A medida que avanza la miniaturización, la capacidad de identificar con precisión las causas de los defectos determina la tasa de rendimiento y la competitividad en el desarrollo de procesos avanzados.
En el mercado global, empresas estadounidenses como Thermo Fisher Scientific y compañías japonesas como Japan Electron Optics Laboratory e Hitachi se consideran principales proveedores. Los productos principales de 200kV de estas empresas alcanzan una resolución de información de aproximadamente 0,11 a 0,12 nm, mientras que el nuevo producto de CIQTEK se aproxima a los equipos líderes globales en indicadores de desempeño clave. Con esta nacionalización, las empresas de semiconductores chinas pueden reducir su dependencia de proveedores extranjeros no solo en la compra de equipos, sino también en el suministro de componentes críticos, mantenimiento y soporte de software.
* Este artículo ha sido traducido por IA.